详细介绍 技术资料
简介
是德科技 E4981B 精密型电容表支持 120 Hz / 1 kHz / 1 MHz 测试频率，基本精度 0.042%，适用于高精度电容与损耗因数测量。
性能特点
测试频率：120 Hz、1 kHz、1 MHz、1 MHz ±1%、1 MHz ±2%（选件 001）
基本精度：C: 0.042%（典型），D: 0.0003（典型）
测试信号电压：0.1 V 至 1 V（分辨率 0.01 V，精度 ±5%）
测量参数：Cp-D、Cp-Q、Cp-Rp、Cp-G；Cs-D、Cs-Q、Cs-Rs
测量速度：5 种速度模式（N=1,2,4,6,8）
补偿功能：开路、短路、负载、电缆、多通道（256 通道）校正
辅助功能：接触检查、SLC 单电平补偿、低电容 reject、比较器（9 bin）
标配接口：GPIB、千兆 LAN（LXI 1.5）、USB Host（Type A）、USB Device（Type Mini-B）、机械手接口、扫描仪接口
应用
多层陶瓷电容（MLCC）、薄膜电容、电解电容生产测试；材料介电特性分析；半导体器件结电容测量；质量检验与自动化产线。
技术参数
参数 | 规格 |
测试频率 | 120 Hz、1 kHz、1 MHz（选件 001 增加 ±1% / ±2% 偏移） |
频率精度 | ±0.02% |
基本精度 | C：0.042%（典型值），D：0.0003（典型值） |
测量参数 | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G；Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs |
测试信号电压 | 0.1 V ～ 1 V（分辨率 0.01 V，精度 ±5%） |
输出阻抗 | 120 Hz / 1 kHz：0.3 Ω / 1.5 Ω / 20 Ω（视量程而定） |
电容测量范围 | 120 Hz：10 nF ～ 1 mF |
显示范围 | Cs, Cp：±1 aF ～ 999.9999 EF |
测量速度（N=1） | 120 Hz：约 10 ms（模拟） |
平均次数 | 1 ～ 256 |
触发时延 | 0 ～ 1 s（分辨率 0.1 ms） |
附件
标配：电源线、快速入门指南、校准证书
选件：
频率选件 001（增加 1 MHz ±1% / ±2%）
频率选件 002（仅 120 Hz / 1 kHz）
测试线缆：16048A（1 m）、16048D（2 m）
接口
标配：GPIB、千兆 LAN（10/100/1000 BaseT，LXI 1.5）、USB Host（Type A）、USB Device（Type Mini-B）、机械手接口（Handler）、扫描仪接口（Scanner）
物理规格
尺寸：370 mm（宽）× 105 mm（高）× 405 mm（深）（标称值）
重量：4.3 kg（标称值）
