详细介绍 技术资料
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
基 本 参 数
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
基 本 参 数
